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Dualscope FMP20兩用法涂鍍層測(cè)厚儀高性價(jià)比
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Dualscope FMP20兩用法涂鍍層測(cè)厚儀高性價(jià)比基于自動(dòng)的基材識(shí)別功能和兩種測(cè)量法的結(jié)合(磁感應(yīng)/渦流,符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標(biāo)準(zhǔn)),此通用型設(shè)備不僅可以對(duì)鐵/鋼上的多種涂層進(jìn)行測(cè)量還可以對(duì)非鐵金屬上的涂層進(jìn)行測(cè)量。采用磁通道(霍爾效應(yīng)法)時(shí),可以測(cè)量更大的厚度范圍。
Dualscope FMP20兩用法涂鍍層測(cè)厚儀高性價(jià)比的詳細(xì)資料:
Dualscope FMP20兩用法涂鍍層測(cè)厚儀高性價(jià)比
Dualscope FMP20:
由于自動(dòng)基板材料識(shí)別和兩種測(cè)量方法的結(jié)合,該通用儀器能夠測(cè)量鐵/鋼和非鐵磁金屬以及非導(dǎo)電材料上的許多涂層。根據(jù)您的測(cè)量應(yīng)用,您可以根據(jù)磁感應(yīng)法,渦流法或根據(jù)兩種方法組合在一臺(tái)儀器中進(jìn)行的涂層厚度測(cè)量。
Dualscope FMP20兩用法涂鍍層測(cè)厚儀高性價(jià)比
磁感應(yīng)測(cè)量原理
采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí),儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小,儀器將該信號(hào)放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù),利用磁阻來調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路,引入微機(jī),使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí))?,F(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀,分辨率達(dá)到0.1um,允許誤差達(dá)1%,量程達(dá)10mm。
磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來測(cè)量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護(hù)層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。
電渦流測(cè)量原理
高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng),測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí),就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小,也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測(cè)頭專門測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較,主要區(qū)別是測(cè)頭不同,信號(hào)的頻率不同,信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣,渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。
采用電渦流原理的測(cè)厚儀,原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性,通過校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量,但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體,但這類任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適。
Dualscope FMP20兩用法涂鍍層測(cè)厚儀高性價(jià)比
主要特點(diǎn):
自動(dòng)探頭識(shí)別
用于數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C的USB端口
大顯示器豐富的對(duì)比度 - 240x160像素
內(nèi)存多達(dá)1000個(gè)讀數(shù)
測(cè)量采集時(shí)的聲音信號(hào)
顯示平均值,標(biāo)準(zhǔn)差,zui小值,zui大值和范圍
容易適應(yīng)樣品的形狀
使用一個(gè)或兩個(gè)校準(zhǔn)箔的附加校正校準(zhǔn)
用于材料和幾何特性的特征設(shè)置的主校準(zhǔn)
能夠?qū)⒅餍?zhǔn)存儲(chǔ)在連接的探頭中
測(cè)量單位可以在m和mil之間切換
可調(diào)節(jié)儀器關(guān)閉或連續(xù)操作
低電量指示
可鎖定鍵盤/限制操作模式
機(jī)械滑塊覆蓋測(cè)量操作不需要的鍵
各種語(yǔ)言設(shè)置