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鐵素體含量測定儀(Feritscope Fmp30)
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菲希爾測厚儀Deltascope FMP30|fischer代理
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Helmut Fischer銅箔測厚儀SR-SCOPE RMP30-S
Helmut Fischer銅箔測厚儀SR-SCOPE RMP30-S 根據(jù)微電阻方法EN14571: 2004,采用微處理器控制的手提式銅箔測厚儀。德國FISCHER菲希爾SR-SCOPE RMP30-S銅板測厚儀-------印制電路板銅厚的測量,該便攜式設(shè)備采用 4 點(diǎn)電阻法
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fischer x-ray xdl 230 菲希爾膜層測厚儀
fischer x-ray xdl 230 菲希爾膜層測厚儀 由于采用了FISCHER*基本參數(shù)法,因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品,儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量和分析。XDL 230特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
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